场发射透射电镜

时间:2025-04-15 15:02:11  作者:  点击:





JEM-F200 Multi-purpose Electron Microscope
 


 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


设备基本信息

仪器名称:场发射透射电镜

仪器型号:JEM F200

放置地点:明向校区分析测试与仪器共享中心109

管理人:郑老师(13327461120

设备简介

JEM-F200透射电镜配有冷场发射电子枪,能够达到更高的分辨率,配有双探头超级能谱仪,能够实现快速高精度的EDS点,线,面分析,搭载有Gatan Oneview相机,能够拍摄更加清晰的高分辨图像。

设备主要技术参数:

1、分辨率:点分辨率≤ 0.23 nmSTEM HAADF分辨率:≤ 0.19 nm

2、束斑尺寸:TEM模式 1-20 nmProbe模式 < 0.5-20 nm

3、加速电压:最高200 kV,加速电压最小步长 50 V

4TEM放大倍数:LOW MAG模式 ×50-6 k MAG模式 ×1 k-2000 k

5STEM放大倍数:LOW MAG模式 ×200-15 K MAG模式 ×20 K-150 M