第三讲 超高分辨双束聚焦离子显微镜+飞行时间二次离子质谱联用（FIB-SEM-TOF SIMS）在材料研究中的应用

时间：2021年11月25日

地点：博学馆B409

腾讯会议号：537986595

讲授内容简介：

（一）电镜基础知识

（二）FIB-SEM基本组成和工作原理

（三）FIB-SEM主要应用

（四）TOF-SIMS系统工作原理及主要应用

（五）原位加热拉伸台功能及应用

主讲教师简介：

郑留伟，男，博士，2017年毕业于太原理工大学材料科学与工程专业，从事先进金属材料塑性成形，金属增材制造，材料微结构分析表征技术等方向的研究；负责中心双束聚焦离子显微镜（FIB-SEM）、透射电子显微镜（TEM）等仪器的操作、维护及测试。