仪器基本信息：
仪器名称：半导体特性分析仪
仪器型号：吉时利4200-SCS
放置地点：明向校区分析测试中心2楼
管理人：樊老师，13513618083
仪器简介：
此设备来自美国吉时利公司，是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。其研究应用领域包括：半导体材料和器件的研发、器件和工艺的参数监控、器件建模、半导体器件可靠性和寿命测试、高功率MOSFET、BJT等器件特性分析、光电子器件研究、非易失存储器测试、太阳能电池及光伏电池特性分析等。典型配置包括：4个高分辨率源测试单元（SMU）、4个电流前置放大器单元（电流可分辨到0.1fA，电流精度10fA）、一个电容-电压测量单元（CVU）、1套完整的脉冲I-V测试单元。
