半导体特性分析仪

时间:2019-03-01 08:55:51  作者:  点击:




仪器基本信息:
仪器名称:半导体特性分析仪
仪器型号:吉时利4200-SCS
放置地点:明向校区分析测试中心2
管理人:于卓斌,13623612896

仪器简介:

   此设备来自美国吉时利公司,是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。其研究应用领域包括:半导体材料和器件的研发、器件和工艺的参数监控、器件建模、半导体器件可靠性和寿命测试、高功率MOSFETBJT等器件特性分析、光电子器件研究、非易失存储器测试、太阳能电池及光伏电池特性分析等。典型配置包括:4个高分辨率源测试单元(SMU)、4个电流前置放大器单元(电流可分辨到0.1fA,电流精度10fA)、一个电容-电压测量单元(CVU)、1套完整的脉冲I-V测试单元。



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